Фильтр по тематике
«Комплексная безопасность–2015»
22 мая 2015 г. завершил работу Международный салон «Комплексная безопасность–2015». Работа по интеграции технологий и инноваций в безопасность страны продолжается. 01.09.2015 СЭ №7/2015 525 0 0
Точные измерения – основа качества и безопасности 2015
С 19 по 21 мая 2015 года в Москве на ВДНХ успешно завершил работу 11-й Московский международный инновационный форум «Точные измерения – основа качества и безопасности’2015», приуроченный ко Всемирному дню метрологии и 90-летию Государственной стандартизации. 01.09.2015 СЭ №7/2015 645 0 0
Intel в России празднует 50-летие закона Мура
20 мая 2015 года в Центральном Доме художника на Крымском валу корпорация Intel и её партнёры отметили полувековой юбилей закона Мура, подвели итоги 50-летнему пути развития микроэлектроники и обсудили будущее отрасли. 01.09.2015 СЭ №7/2015 536 0 0
РобоСектор-2015: объединяя опыт и технологии
22 апреля 2015 г. в конференц-зале гостиничного комплекса «Измайлово» успешно и продуктивно прошла первая практическая конференция РобоСектор, организованная компанией АВИТОН при поддержке ФГБУ ВНИИПО МЧС России. 01.09.2015 СЭ №7/2015 552 0 0
Новое в OrCAD 16.6-2015
В 2015 г. программе OrCAD исполняется 30 лет. Разработчик программы, американская компания Cadence Design Systems Inc., отмечает юбилей масштабным обновлением и выходом новых приложений под брендом OrCAD. В 2014 г. уже появилисьOrCAD Library Builder, OrCAD Engineering Data Management и OrCAD Documentation Editor. Далее в статье речь пойдёт о новинках OrCAD 2015. 01.09.2015 СЭ №7/2015 744 0 0
Solid Edge в приборостроении
Приборостроительные предприятия всё чаще сталкиваются с необходимостью сокращения сроков разработки инновационных, высококачественных, безопасных и простых в эксплуатации изделий. Использование системы Solid Edge® от Siemens PLM Software позволяет повысить скорость проектирования изделий, проводить анализ и виртуальные испытания разработок и гарантировать соблюдение требований к их качеству. В статье рассматриваются возможности Solid Edge, позволяющие интуитивно понятным образом моделировать качественные изделия и сокращать сроки их выхода на рынок. 01.09.2015 СЭ №7/2015 678 0 0
Как упростить проектирование усилителей класса E с использованием синтеза
Создание усилителя мощности класса E может быть сложной задачей. Новый способ проектирования, описываемый в статье, предлагает более простую и быструю альтернативу традиционному подходу. 01.09.2015 СЭ №7/2015 1323 0 3
Компактная модель транзистора: план действий для успешной разработки усилителя
В статье описаны особенности построения компактной модели СВЧ-транзистора, которая позволяет создать эффективное проектное решение, ускорить процесс разработки усилителя, снизить трудоёмкость работ и в сжатые сроки вывести на рынок новое изделие. 01.09.2015 СЭ №7/2015 1313 0 0
Электрическая схема с коммутирующими IGBT-транзисторами для газоразрядных ламп
В статье приведено описание разработанной и испытанной электрической схемы накачки импульсных ксеноновых ламп с коммутирующими IGBT-транзисторами и указаны её достоинства. 01.09.2015 СЭ №7/2015 1589 0 1
Цепи стабилизации для однотактных преобразователей напряжения
Статья посвящена описанию приёмов реализации цепей стабилизации для высокоэффективных однотактных AC/DC-конвертеров средней мощности при соблюдении условий их устойчивости, экономичности и минимального числа компонентов. 01.09.2015 СЭ №7/2015 825 0 0
Контрольные испытания датчиков угловой скорости и кажущегося ускорения
В статье речь идёт о поиске оптимального соотношения периодических и приёмо-сдаточных испытаний (ПСИ) датчиков угловой скорости и кажущегося ускорения, выполненных на основе волоконно-оптических и инерционно-механических приборов. Также освещены методики проверки на ПСИ канала измерения линейного ускорения. 01.09.2015 СЭ №7/2015 1229 0 0
Архитектура систем тестирования микросхем компании ABI
В процессе принятия решения о приобретении системы компании ABI заказчики сравнивают спецификации с техническими характеристиками конкурентных решений и часто задают два вопроса: «Какова скорость тестирования?» и «Каков объём памяти на каждый канал?». Ответить на них сразу сложно, так как архитектура и принципы работы систем ABI и продуктов других производителей отличаются. 01.09.2015 СЭ №7/2015 606 0 0